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Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast pour des semi-conducteurs d'IC

Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast pour des semi-conducteurs d'IC

Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast

Chambre d'essai de vieillissement de semi-conducteurs d'IC

Chambre d'essai de vieillissement de R232C

Lieu d'origine:

La Chine

Nom de marque:

BOTO

Certification:

CE ISO

Numéro de modèle:

Série de BT-HAST

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Détails du produit
Puissance:
Électronique
Utilisation:
Machine d'essai universelle
Température ambiante:
-80℃~+200℃
Humidité relative:
20%~98%
Nom de produit:
incubateur d'humidité de la température
Garantie:
12 mois
Mettre en évidence:

Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast

,

Chambre d'essai de vieillissement de semi-conducteurs d'IC

,

Chambre d'essai de vieillissement de R232C

Conditions de paiement et d'expédition
Quantité de commande min
1set
Détails d'emballage
cas en bois
Délai de livraison
5-25 jours
Conditions de paiement
L/C, T/T, Western Union
Capacité d'approvisionnement
100 ensembles/ensembles par mois
Description du produit

Chambre climatique d'essai de vieillissement de hast de PCT pour des semi-conducteurs d'IC

Appareil :

L'essai de machine à haute pression d'essai de vapeur de BT-HAST est d'améliorer le stress environnemental (comme : la température) et des contraintes du travail (appliquées à la tension de produit, la charge, etc.), accélérer le processus d'essai, raccourcir le moment d'essai de durée de produit ou de système pour l'enquête et l'analyse quand le problème de l'usage et la vie des composants électroniques et les pièces mécaniques, la forme de la fonction de répartition de défaut de la durée de vie, et l'analyse des causes de l'augmentation du taux d'échec

1. Le revêtement à haute pression de machine d'essai de vapeur de BT-HAST avec la conception circulaire, peut empêcher le phénomène d'égoutture de condensation d'essai, afin d'éviter le produit pendant l'essai par l'impact direct des résultats d'essai au choc de vapeur surchauffée

2. La machine d'essai à haute pression de vapeur de BT-HAST est équipée du cadre de produits d'acier inoxydable de double-couche, peut également être adaptée aux besoins du client selon le support adapté aux besoins du client libre de spécifications produit de client.

3. La norme à haute pression de machine d'essai de vapeur de BT-HAST équipée de huit terminaux d'application de signal témoin d'essai, peut également augmenter le nombre de terminaux en tant que nécessaire, pour fournir 55 terminaux de polarisation.

4. La machine d'essai à haute pression de vapeur de BT-HAST avec un support spécial témoin élimine des opérations de câblage compliquées

Modèle BT-BND-GL-250 BT-BND-GL-350 BT-BND-GL-250D BT-BND-GL-350D BT-BND-GL-250M BT-BND-GL-350M
Taille intérieure 25*D35 30*D45 40*D55 50*D60 25*D35 30*D45
Taille externe 56*65*105 (W*H*D) cm 66*105*125 (W*H*D) cm 76*115*135 (W*H*D) cm 86*135*145 (W*H*D) cm 56*65*105 (W*H*D) cm 66*105*125 (W*H*D) cm
Chaîne de Temp 105℃~132℃ 105℃~142.9℃ 105℃~155℃
Chaîne de pression +0.2~2.0kg/cm2 +0.2~3.0kg/cm2 +0.2~3.5kg/cm2
Humidité relative 65%~100%RH (réglable)
Contrôleur BND-6890 port du port USB R-232C
Résolution Temp : 0.1℃ humide : Pression 0.1%RH : 0,1 kg/cm2

INTRODUCTION DE SOCIÉTÉ

Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast pour des semi-conducteurs d'IC 0Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast pour des semi-conducteurs d'IC 1Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast pour des semi-conducteurs d'IC 2Chambre climatique d'essai de vieillissement de PCT Hast pour des semi-conducteurs d'IC 3

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